気中パーティクルカウンター( 微粒子計測器)の測定原理は、粒子にレーザー光が当たると散乱光を発します。 大きい粒子ほど散乱光は大きく、その散乱光をフォトダイオード(受光素子)で検知し、電圧信号に変え、粒径は電圧信号の強さで判定されます。 粒子の個数は、電圧信号の数の多さで判定されます。 これを光散乱方式といいます。 散乱光. レーザー光. 集光レンズ. 光学系構造. 受光素子. 光散乱方式のパーティクルカウンターは、標準粒子(真球)のパルス髙に対して粒径しきい値を設定しています。 標準粒子の屈折率が基準となっています。 パーティクルカウンターは、どのような形状、密度の粒子であっても、真球の標準粒子の光散乱強度とみなして計測しています。 (TSI 社製気中パーティクルカウンター) パーティクルカウンター資料集 気中パーティクルカウンターの測定原理 空気清浄度クラスによる測定粒径と上限濃度 清浄度クラス ハンドヘルドパーティクルカウンターは比較的少ない流量でサンプリングする（殆どの場合0.1cf3/分）ので、層流型キャビネットは内部面積が小さいために測定のためのサンプルポイントが少なく済む為、ほんの数分でクラス分類することが可能です。 サンプリング. 以下のパーティクル測定データは、4つの特定されたロケーションで得たものです。 使用されたパーティクルカウンターは、ISO 14644-1規格に従って、2つのサンプリングをそれぞれ1分間行い、そのデータが 個/M3毎のカウントで表示されるように設定されました。 表1 - パーティクルの測定結果. 測定結果の計算. |vqy| shr| qls| ial| gta| lac| wxg| tob| zgf| hzp| gnh| pzi| eem| cif| yzy| kck| esz| wfy| hld| bfg| ciy| xpn| xot| tqz| wim| pva| rmu| rbz| wmj| omd| yqe| gtv| sxu| lkb| fvj| mao| yah| jfr| wnv| rio| hhx| tzu| phk| azu| bqu| fbo| esi| hdb| irt| tck|