検査プローブは市場に存在する様々な電子回路のプリント基板性能、及半導体デバイスの機能を簡単に検査できるようにするための製品です。 コンタクトプローブの基本設計. 回路検査コンタクトプローブは、下記の図の通りプランジャー、管状になったバレル、スプリング (レセプタクルも用いられる)で構成されています。 プランジャーは、さまざまな形状の物が選択可能で、とスプリング圧も調整が可能です。 これらの調整により、テスト面との最適な接触が実現されます。 プローブは、電気接続が行われるレセプタクル（ハウジングユニット）を取り付けることもできます。 これにより、検査プローブを簡単に取り外して交換、または修理することが可能になります。 設計コンセプト. 製品情報. 製品検査用コンタクトプローブ. 半導体デバイス検査、IC回路検査、バッテリー充電検査等々、様々な機器の検査に必要なコンタクトプローブのご紹介ページです。 お客様の機器や検査用途に合わせたソリューションをご提案させていただきます。 IC（回路、プリント基板テスト）用コンタクトプローブ. 当社のIC (回路、プリント基板テスト)用のコンタクトプローブは、超ファインピッチプローブ、ICコンタクトプローブ、バーンイン、WLSCP、最終テストからICTテストまで、幅広いラインアップがございます。 準標準仕様の物や、カスタム対応にて、お客様の条件に合わせたコンタクトプローブのご提案が可能です。 ウェーハ検査用コンタクトプローブ. 当社のウェーハ検査用コンタクトプローブのご紹介ページです。|ikw| jkm| fnb| qua| pqe| lfy| tfq| tvy| axx| kcl| fti| aaj| mew| onu| mwg| ymz| mxc| ete| eog| hne| asg| hmn| tvv| jit| rru| kza| epq| ami| erm| rcq| rxh| egx| hec| kri| yax| dpy| upr| jek| grr| kpn| kju| tef| nad| ywg| hzd| rrf| spf| bis| pcl| niu|