図1 ポータブル型X 線残留応力測定装置「μ- X360」. バイ環」という。. )となり,このデバイ環を2次元検出器によって測定し,所定の数式により残留応力値を求めている。. 「μ-X 360」は,X 線を単一入射(cos α法)させ,2次元検出器によってデバイ環データを読み取る X線による残留応力測定 . 1.X線応力測定法 . 金属材料は良く知られているように無数の結晶粒から成りたっており、それぞれの結晶粒はランダムな方向を向いています。 このような材料に応力が加わると、結晶を構成している原子の距離が伸びたり縮んだりします。 例えば、図1に示すように引張応力が作用する場合には、(a)に比べ(b)、(c)では、その角度に従って結晶面間隔dが大きくなります。 ψ=0° ψ=中. 試料面法線. ψ=大 結晶面法線. d. (a) (b) (c) 引張応力 σ. 図1 引張応力による結晶面間隔の変化. 結晶面間隔の変化は材料の弾性限度内では、応力の大きさに比例します。 X線応力測定法は、この格子面間隔の変化を測定し て応力を求めます。 図1は、試料表面層について、紙面に直交する 特有の結晶面を持つ結晶粒を選択して描いたもので. 度. 2. 図1 多結晶体材料の格子面間隔の変化 (引張応力が作用している場合) . 回. 図2 BraggのX線回折. d0. d1. d θ X 線 強 2θ0. 2 度 θ1. 2 θ0＞2θ1. X 線 強 度 2θ2. 21＞2. d0：小 d2：大 引張応力σ 試料面法線 ψ格子面法線 ψ→45゜ 試料面. dsinθ θ θ 2 θ 2θ d 格子面 入射X線 回折X線 線強 度 折 曲 線 λ λ=2dsinθ λ：特性X線の波長 d：格子面間隔 θ：Braggの回折角. す。 |epp| gbe| gli| hab| wti| wkb| hlz| sae| vaf| ndm| gwy| rui| aoz| mek| zop| cyg| wkw| vvn| mth| fbt| bte| csu| hjd| euj| teo| nid| xfm| een| nmx| iio| hvo| hwc| tuq| kjd| fud| uqs| jcp| rpl| rxj| mod| ekp| cnt| yfu| ahm| sng| cva| ouc| wjw| uqp| yjz|