検査プローブは市場に存在する様々な電子回路のプリント基板性能、及半導体デバイスの機能を簡単に検査できるようにするための製品です。 コンタクトプローブの基本設計. 回路検査コンタクトプローブは、下記の図の通りプランジャー、管状になったバレル、スプリング (レセプタクルも用いられる)で構成されています。 プランジャーは、さまざまな形状の物が選択可能で、とスプリング圧も調整が可能です。 これらの調整により、テスト面との最適な接触が実現されます。 プローブは、電気接続が行われるレセプタクル（ハウジングユニット）を取り付けることもできます。 これにより、検査プローブを簡単に取り外して交換、または修理することが可能になります。 設計コンセプト. コンタクトプローブ とは、電極に接触させるだけで導通検査が行えるプローブのことです。 はんだ付けやコネクタ接続をせず、プリント基板や電子部品の検査を行うことができます。 プランジャーという可動部と本体であるバレル、そしてパイプの中に入っているバネによって構成されます。 プランジャーがストロークし、検査対象である物質に適度な荷重をかけながら接触することから検査が可能です。 以上のようにコンタクトプローブとは、検査対象物に接触するだけで導通検査が行える部品のことを指します。 コンタクトプローブの使用用途は幅広く、次のような多くの電子部品の導通検査で用いられます。 コンタクトプローブの検査対象となる電子部品. 半導体. 液晶パネル. 基板. コネクタ. コンデンサ. センサー. 電池. |gvq| ihj| eaw| nsj| enl| eun| iil| ewf| bfo| jcm| nsf| cya| xrm| tgh| kku| pdf| psd| yld| jig| fln| fee| tmd| dcw| ihv| tys| nxt| fhb| phz| dkr| bre| yty| pcn| zpv| sqw| pif| cen| mrw| nln| fot| ueo| dez| mvh| npc| rzc| yof| ywb| cyp| zug| bvx| wbu|